Издания автора: Шашурин В.Д.

Ускоренные испытания на надежность технических систем

Рассмотрены вопросы планирования контрольных и определительных ускоренных испытаний на безотказность и долговечность. Приведены типовые методики планирования с использованием математического моделирования в MATLAB.

Испытания на надежность технических систем

Посвящено практическим методам статистической оценки надежности. Рассмотрены вопросы планирования контрольных и определительных испытаний на безотказность и долговечность. Приведены примеры планирования с использованием программы математического моделирования MATLAB. Даны подробные инструкции по выполнению практических заданий.

Надежность технических систем. Резервирование, восстановление

Рассмотрены вопросы надежности технических систем, связанные с методами повышения надежности путем восстановления и резервирования.

Формирование гетероструктур наноприборов методом молекулярно-лучевой эпитаксии

Настоящее издание соответствует учебной программе курса "Специальные технологические методы в нанотехнологии". Рассматриваются методы выращивания 2D-наноструктур (нанослоев), 1D-наноструктур (нанонитей) и OD-наноструктур (наночастиц) с помощью молекулярно-лучевой эпитаксии для их применения в наноприборах радиоэлектронных систем.

Аппаратное обеспечение испытаний изделий на воздействие вибрации

Рассмотрены вопросы выбора технических средств для испытаний изделий на воздействие вибрации. Даны классификации измерительного и испытательного оборудования, приведены примеры. Описаны принцип действия и основные характеристики преобразователей механических величин и способы их крепления к исследуемому объекту.

Нанотехнологии и микромеханика. Часть 4. Зондовые нанотехнологии

Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий.

Нанотехнология и микромеханика. Часть 5. Надежность наноприборов и радиоэлектронных устройств на их основе

Проанализированы вопросы обеспечения надежности радиоэлектронных средств нового поколения - на базе приборов, функционирующих на квантоворазмерных эффектах в наноразмерных слоях составляющих их полупроводниковых гетероструктур. В качестве примера рассмотрено обеспечение надежности смесителя радиосигналов СВЧ-диапазона на базе резонансно-туннельных диодов.

1