Нанотехнологии

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов
К.В. Малышев, Е.А. Скороходов, В.М. Башков
  • Год:
    2007
  • Тип издания:
    Методические указания
  • Объем:
    44 стр. / 2.75 п.л
  • Формат:
    60x84/16
  • ISBN:

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ.

подробнее
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 2. Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа
К.В. Малышев, В.М. Башков, С.А. Мешков
  • Год:
    2007
  • Тип издания:
    Методические указания
  • Объем:
    42 стр. / 2.75 п.л
  • Формат:
    60x84/16
  • ISBN:

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ.

подробнее
Нанотехнологии и микромеханика. Часть 4. Зондовые нанотехнологии
Ю.А. Иванов, В.М. Башков, В.Д. Шашурин, Н.В. Федоркова
  • Год:
    2007
  • Тип издания:
    Учебное пособие
  • Объем:
    56 стр. / 3.26 п.л
  • Формат:
    60x84/16
  • ISBN:
    5-7038-2938-0

Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий.

подробнее
<<12