Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии

Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии
О.М. Жигалина, К.О. Базалеева
  • Год:
    2017
  • Тип издания:
    Методические указания
  • Объем:
    36 стр. / 2.25 п.л
  • Формат:
    60x90/16
  • ISBN:
    978-5-7038-4785-5
  • Читать Online

Ключевые слова: кристаллические решетки, лабораторная работа. пробоподготовка объектов, ориентация кристаллов, просвечивающий электронный микроскоп, фазовый состав, электронограммы

Рассмотрены способы пробоподготовки объектов в просвечивающем электронном микроскопе, основные режимы работы микроскопа, методы расчета электронограмм при определении ориентации кристаллов, типа и периодов кристаллической решетки вещества, идентификации фазового состава, а также процесс получения изображений структуры с атомным разрешением.

Для студентов, изучающих дисциплины "Методы структурного анализа", "Материаловедение", "Современные методы исследования материалов", "Материалы микро- и наноэлектроники" и др.

ОГЛАВЛЕНИЕ
1. Теоретическая часть
1.1. Общие сведения
1.2. Некоторые режимы работы микроскопа
1.3. Типы дифракционных картин
1.4. Расшифровка электронограмм
2. Описание лабораторного оборудования
2.1. Общее описание микроскопа
2.2. Технические характеристики микроскопа
3. Задачи и порядок проведения лабораторной работы
3.1. Порядок выполнения лабораторной работы
3.2. Обработка результатов измерений
3.3. Вопросы для самоконтроля и оценки уровня готовности к выполнению лабораторной работы
3.4. Вопросы к защите лабораторной работы
4. Общие правила безопасности при выполнении лабораторной работы
5. Оценка качества выполнения лабораторной работы

Авторы работы: Жигалина Ольга Михайловна, Базалеева Ксения Олеговна