Методы исследования материалов и покрытий

Методы исследования материалов и покрытий
Ю.А. Быков, С.Д. Карпухин
  • Год:
    2015
  • Тип издания:
    Методические указания
  • Объем:
    48 стр. / 3 п.л
  • Формат:
    60x90/16
  • ISBN:
    978-5-7038-4192-1
  • Читать Online

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, лабораторная работа, металлографические микроскопы, растровая электронная микроскопия, рентгеновский спектральный микроанализ, световая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, структуры материалов

Представлены четыре лабораторные работы по дисциплине "Методы исследования материалов и покрытий". Кратко изложены принципы работы исследовательского оборудования и его технические характеристики. Приведен порядок выполнения лабораторных работ и требования к оформлению отчета.

Для студентов МГТУ им. Н.Э. Баумана, обучающихся по специальности "Материаловедение в машиностроении".

СОДЕРЖАНИЕ
Работа № 1. Световая микроскопия. Изучение структуры материалов и ее количественная обработка
Работа № 2. Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия. Получение трехмерных изображений структуры материалов, их анализ и количественная обработка
Работа № 3. Растровая электронная микроскопия. Изучение структуры материалов в широком диапазоне увеличений и фрактографические исследования
Работа № 4. Рентгеновский спектральный микроанализ. Определение химического состава материала

Авторы работы: Быков Ю.А., Карпухин С.Д.