Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов

Наноматериалы для радиоэлектронных средств. Часть 1. Подготовка сканирующего туннельного микроскопа к диагностике и модификации наноматериалов
К.В. Малышев, Е.А. Скороходов, В.М. Башков
  • Год:
    2007
  • Тип издания:
    Методические указания
  • Объем:
    44 стр. / 2.75 п.л
  • Формат:
    60x84/16
  • ISBN:
  • Читать Online

Ключевые слова: аналоговая обратная связь, диагностика, инерцоиды, лабораторная работа, нанодвигатели, наноматериалы, нанорельеф, перенос заряда, предусилители, пьезодвигатели, пьезокерамики, сканирующий туннельный микроскоп, сумматоры, токоперенос, цифровая обратная связь

В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. В первой части изучается подготовка СТМ к модификации (диагностике) наноматериалов с помощью СТМ.

Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.

СОДЕРЖАНИЕ
Работа № 1. Измерение частотной характеристики предусилителя СТМ
Работа № 2. Измерение частотной характеристики высоковольтного усилителя СТМ
Работа № 3. Измерение временных характеристик инерциального нанодвигателя СТМ
Работа № 4. Измерение нанорельефа поверхностей наноматериалов с помощью СТМ

Авторы работы: Малышев К.В., Скороходов Е.А., Башков В.М.