Нанотехнологии и микромеханика. Часть 4. Зондовые нанотехнологии

Нанотехнологии и микромеханика. Часть 4. Зондовые нанотехнологии
Ю.А. Иванов, В.М. Башков, В.Д. Шашурин, Н.В. Федоркова
  • Год:
    2007
  • Тип издания:
    Учебное пособие
  • Объем:
    56 стр. / 3.26 п.л
  • Формат:
    60x84/16
  • ISBN:
    5-7038-2938-0
  • Читать Online

Ключевые слова: атомно-силовой микроскоп, диссонация, зондовая нанодиагностика, зондовые нанотехнологии, кантилевер, микромеханика, нанотехнологии, нанотрубка, профилометрия, резист-маска, сканирующий туннельный микроскоп

Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий.

Для студентов и аспирантов специальностей "Технологии приборостроения", "Технологии электронных средств", "Нанотехнологии".

ОГЛАВЛЕНИЕ
1. Сканирующий туннельный микроскоп
1.1. Теоретические основы сканирующей туннельной микроскопии
1.2. Режимы профилометрии
1.3. Режимы измерения электрофизических свойств образца
1.4. Состав, конструкция и работа сканирующего туннельного микроскопа
1.5. Области применения сканирующего туннельного микроскопа
1.6. Атомно-силовой микроскоп
2. Явления под зондами сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа
3. Зондовые нанотехнологии
3.1. Зондовые нанотехнологии с резистами-масками
3.2. Зондовые нанотехнологии без резиста
3.3. Вероятные механизмы диссонации молекул под зондом сканирующего туннельного микроскопа
4. Нанотрубки в зондовой нанодиагностике

Авторы работы: Иванов Ю.А., Башков В.М., Шашурин В.Д., Федоркова Н.В.